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電子顯微鏡按結構和作用可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等。透射式電子顯微鏡常用于觀察那些用一般顯微鏡所不能分辨的細微物資結構；掃描式電子顯微鏡主要用于觀察固體表面的形貌，也能與X射線衍射儀或電子能譜儀相結合，構成電子微探針，用于物資成分剖析；發(fā)射式電子顯微鏡用于自發(fā)射電子表面的研究。投射式電子顯微鏡因電子束穿透樣品后，再用電子透鏡成像擴大而得名。它的光路與光學顯微鏡相仿。在這種電子顯微鏡中，圖像細節(jié)的對比度是由樣品的原子對電子束的散...

掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡與光學顯微鏡之間的一種觀察手段。它是運用聚焦十分窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束合物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大還有再成像為了達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率能夠達到1nm；放大倍數(shù)能夠達到三十萬倍或者以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大，視野大，成像立體效果好。除此之外，掃描電子顯微鏡與其他分析儀器相結合，能夠做到觀察微觀形貌的同時進行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶...

掃描電鏡中STEM透射模式的應用透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV)，對于有機高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強，形成的透射像襯度低，而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV)，因此應用其STEM模式成透射像，可大大提高像的襯度。有機太陽能電池用的高分子/富勒烯薄膜(有機固體實驗室樣品)的透射電子像，在用透射電鏡觀察其分相結構時，由于兩部分襯度都低，因此幾乎無法區(qū)分，而應用掃描電鏡的STEM模式觀察時，可清楚地觀察到兩相的結構。應用透射電鏡觀察生物樣品時...

掃描電子顯微鏡SEM的基本知識，一定要了解在材料領域中，掃描電鏡技術發(fā)揮著極其重要的作用，被廣泛應用于各種材料的形態(tài)結構、界面狀況、損傷機制及材料性能預測等方面的研究。利用掃描電鏡可以直接研究晶體缺陷及其產(chǎn)生過程，可以觀察金屬材料內(nèi)部原子的集結方式和它們的真實邊界，也可以觀察在不同條件下邊界移動的方式，還可以檢查晶體在表面機械加工中引起的損傷和輻射損傷等。掃描電鏡的結構及主要性能掃描電鏡可粗略分為鏡體和電源電路系統(tǒng)兩部分。鏡體部分由電子光學系統(tǒng)、信號收集和顯示系統(tǒng)以及真空抽氣...

掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發(fā)明的細胞生物學研究工具，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。一.原理：如果入射電子撞擊樣品表面原子的外層電子，把它激發(fā)出來，就形成低能量的二次電子，在電廠的作用下它可呈曲線運動，翻越障礙進入檢測器，使表面凹凸的各個部分都...